SJ/T 10740-1996 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理
时间:2024-05-11 01:18:35 来源: 标准资料网 作者:标准资料网 阅读:8339
基本信息
标准名称: | 半导体集成电路 双极型随机存储器测试方法的基本原理 |
英文名称: | Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods for bipolar random access memories |
中标分类: |
化工 >>
化工综合 >>
技术管理 |
替代情况: | 原标准号GB 3444-82 |
发布日期: | 1996-11-20 |
实施日期: | 1997-01-01 |
首发日期: | 1900-01-01 |
作废日期: | 2010-01-20 |
出版日期: | 1900-01-01 |
页数: | 33页 |
适用范围
没有内容
前言
没有内容
目录
没有内容
引用标准
没有内容
所属分类: 化工 化工综合 技术管理
【英文标准名称】:Ceramictiles-Part16:Determinationofsmallcolourdifferences
【原文标准名称】:瓷砖.第16部分:小色差的测定
【标准号】:ISO10545-16-1999
【标准状态】:作废
【国别】:国际
【发布日期】:1999-03
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际标准化组织(IX-ISO)
【起草单位】:ISO/TC189
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:瓷砖;陶瓷;颜色;色差;染色试验;定义;测定;厚板材;面砖
【英文主题词】:Ceramictiles;Ceramics;Colour;Colourdifferences;Colourtests;Definitions;Determination;Plates;Tiles
【摘要】:ThispartofISO10545describesamethodforutilizingcolourmeasuringinstrumentsforquantifyingthesmallcolourdifferencesbetweenplaincolouredglazedceramictiles,whicharedesignedtobeofuniformandconsistentcolour.Itpermitsthespecificationofamaximumacceptablevaluewhichdependsonlyontheclosenessofmatchandnotonthenatureofthecolourdifference.ColourvariationsproducedforartisticpurposesarenotcoveredinthispartofISO10545.NOTEThistestshouldonlybeusedwhensmallcolourdifferencesbetweenplaincolouredglazedtilesareimportantinaspecification.
【中国标准分类号】:Q31
【国际标准分类号】:91_100_23
【页数】:6P.;A4
【正文语种】:英语